자유공간 유전율 특성검증
자유공간 특성검증 시스템 서비스 개요
- 비접촉 방식을 통하여 소재의 파손 없이 소재 자체의 특성을 측청
서비스 구성
| 자유공간 유전율 특성검증 시스템 | |
|---|---|
| 측정 주파수 | 8.2 ~ 12.4 GHz (X-band) 주파수 대역폭 확대 예정 |
| 측정 대상 | 필름 및 박막, 레이돔 소재, 전파 흡수체, 메타물질 등 |
| 측정 항목 | S-parameter (S11, S12, S22, S21), 유전율, 투자율 |
| 장비 사진 |  |
| 자유공간 유전율 특성검증 시스템 | |
|---|---|
| 측정 주파수 | 8.2 ~ 12.4 GHz (X-band) 주파수 대역폭 확대 예정 |
| 측정 대상 | 필름 및 박막, 레이돔 소재, 전파 흡수체, 메타물질 등 |
| 측정 항목 | S-parameter (S11, S12, S22, S21), 유전율, 투자율 |
| 장비 사진 | |